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高光譜成像儀眩光測試係統

產品時間:2020-03-11

簡要描述:

高光譜成像儀眩光測試係統
測試UGR 針對室內室外眩光值
GR 針對體育場、球場眩光值
電控雲台180°旋轉測量
230萬像素麵陣CMOS傳感器
亮度誤差±5%
亮度範圍0.001-2000-200000-20000000cd/m2

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眩光測試分析係統
測試UGR 針對室內室外眩光值
GR 針對體育場、球場眩光值
電控雲台180°旋轉測量
230萬像素麵陣CMOS傳感器
亮度誤差±5%
亮度範圍0.001-2000-200000-20000000cd/m2

● 眩光的評價指標是根據照明應用環境測試得出的相關評價算法。本係統能實現室內照明、室內不舒適眩光-UGR的測量。其它算法模型可定製。
 ● 眩光指視野中由於不適宜亮度分布,或在空間或時間上存在極端的亮度對比度,以致引起視覺不舒適和降低物體可見度的視覺條件。 
   本係統針對室內照明、照明現場眩光進行測量評價。滿足CIE 115、GB/T 5700、GB 50034-2013、JGJ/T163-2008等標準要求。 

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